壓差技術(shù)與X射線(xiàn)熒光技術(shù)相結合，可分析機器故障的根本原因

       斯派超的這種分析系統，將機器故障的根本原因分析是通過(guò)將兩步分析過(guò)程結合改進(jìn)在一起實(shí)現的，其包括:壓差技術(shù)與 XRF技術(shù)。這個(gè)相對快速的系統可以篩選具有高顆粒計數的樣品，并對所得樣品過(guò)濾器進(jìn)行完整的13元素XRF分析。

        改進(jìn)的孔阻塞技術(shù)被稱(chēng)為“壓差法顆粒計數法"或FPQ。FPQ具有約30,000個(gè)直徑為4um的孔的聚碳酸酯過(guò)濾器的注射器以恒定流速驅動(dòng)3ml油液樣品。根據測量的相對于大氣壓的穿過(guò)濾膜的壓降，用于量化大于4um的每毫升高達百萬(wàn)的顆粒的數量。相對于常規孔堵塞儀器，這一設備主要是通過(guò)改進(jìn)濾膜設計來(lái)實(shí)現的。這種新的雙動(dòng)態(tài)設計將測量范圍提高了顆粒飽和率以上(x50).

       分析完成后，過(guò)濾的油液從FPQ傳遞到XRF設備。由于存在顆粒交換現象，FPQ和XRF在校準方面密切相關(guān)。FPQ和XRF儀器使用一系列的規則和校準，以確保高達每毫升1百萬(wàn)個(gè)顆粒的精確元素定量計數。這種技術(shù)與特殊過(guò)濾器相結合克服了XRF設備通常使用的油杯進(jìn)行分析的問(wèn)題。這種過(guò)濾器設計能夠將顆粒輸送到過(guò)濾器的小區域中，使得聚焦的X射線(xiàn)束可以將其能量集中在那些顆粒上。該儀器使用40kev和15kev來(lái)量化13個(gè)元素，平均檢測限為一1ppm。